本文標題："粒徑大于lnm的顆粒明場和暗場顯微分析顯微鏡"
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粒徑大于lnm的顆粒明場和暗場顯微分析顯微鏡
分散度
分散度很容易定義，但準確的測定卻幾乎不可能。分散度可以
定義為裸露在表面的原子數(shù)M與催化劑中總的原子數(shù)的比值。但是
Ⅳ。卻決定于對表面的定義以及測定所用的實驗方法和計算用的模
型。例如，某些金屬晶面的排列較其他晶面更加緊密；最外層金屬
原子的開放程度將會決定次外層原子暴露于氣相的程度。
除了下面描述的化學吸附技術(shù)外，分散度還可以根據(jù)金屬顆粒
的尺寸大小計算得到。因此，為了對比不同表征方法獲得的結(jié)果，
必須考慮分散度和顆粒大小的關(guān)系。最常采用的顆粒形狀是球形或
半球形，對于金屬鉑來說尤其如此。然而，隨著分散度接近于1，
可能會出現(xiàn)二維的盤狀結(jié)構(gòu)(或稱“木排”)。因此，分散度與晶粒
尺寸是相關(guān)的，但這一關(guān)系并不簡單。擔載的顆粒很少呈現(xiàn)統(tǒng)一的
尺寸(單分散)，而是存在顆粒尺寸的大小分布(多分散)。
因為電子顯微鏡不能測定粒徑低于某一數(shù)值的粒子，這一數(shù)值
是由用于測定的電子顯微鏡本身的分辨率決定的。
由載體引起的重疊影像會影響人們對金屬粒子的觀察能力，尤
其是當載體具有一定晶體結(jié)構(gòu)時。重整催化劑的高分辨電子顯微照
片上發(fā)現(xiàn)了上述情況。載體引起的反差圖像會使金屬顆粒更加模糊
，從而使其更難分辨。在測定較小金屬顆粒的尺寸和形狀時，載體
對分辨率和圖像反差的影響已在相關(guān)的理論研究文章中做出了討論
¨蚓。根據(jù)對圖像的計算分析，當采用0．2nm點分辨率的顯微鏡觀
察1．9nm厚的無定形載體時，1．2nm大小的立方八面體就無法被檢
測出來。粒徑大于lnm的顆粒通常很容易通過明場和暗場顯微分析
被檢測出來。對于更小的顆粒，高角環(huán)形暗場成像技術(shù)很有用，因
為在高角上被散射的電子對于原子序數(shù)更加敏感；因此在高角條件
下與載體相比，鉑的靈敏度有所增加。
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