本文標題："土壤礦物微量分析測量用專業(yè)偏光顯微鏡制造廠商"

土壤礦物微量分析測量用專業(yè)偏光顯微鏡制造廠商

    激光光譜儀(laser spectrometer)連帶偏光顯微鏡不能用于掃描。但是，樣本的分析表
面雖僅稍大于微探針分析的表面，然而精密度較大。

    微量化學(xué)分析可用于土壤薄片。這是借加入特殊試劑，靠用目力比色鑒定的方法。這種
技術(shù)的潛在作用還待探索。

    根據(jù)光學(xué)性質(zhì)和結(jié)晶學(xué)特征，運用普通偏光顯微鏡可進行礦物微量分析;但是，只有在
礦物的大小超過土壤薄片的厚度時才有可能。因為土壤粘粒礦物過小，如用偏光顯微鏡是很
少能鑒定的。
    然而，有其它技術(shù)可用以鑒定土壤礦物。例如，應(yīng)用相差顯微鏡(或干涉相，interfere-
nce phase)觀察，透射電鏡(TEM)觀察小樣本的懸液等。這些方法可鑒定粘粒礦物的主要
類型，但是認識它們在上壤中的轉(zhuǎn)變還有困難。

    用X一射線衍射法進行微量分析還不可能很清楚。另一種方法是從旋轉(zhuǎn)陽極而放射出的
X一射線來對準焦點;并在反射鏡(mirror)中，用偏光顯微鏡觀察所測的分析點位。這種方
法仍在研究中。

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