本文標(biāo)題："巖石學(xué)觀察顯微鏡與顯微樣品的制備"

巖石學(xué)觀察顯微鏡與顯微樣品的制備

樣品的制備
    大多數(shù)巖石學(xué)者用標(biāo)準(zhǔn)拋光薄片進(jìn)行陰極發(fā)光巖石學(xué)觀察。
用于浸注并將樣品固定于載片上的環(huán)氧樹脂必須是耐熱的。
特別是用于冷陰極發(fā)光顯微鏡的薄片，強(qiáng)電子束會(huì)導(dǎo)致一些樹脂
的熱損壞。

因?yàn)殡娮邮仨氈苯愚Z擊樣品，所以薄片不必加蓋片。
為得到清晰可見(jiàn)的微細(xì)結(jié)構(gòu)和礦物成份的照片，薄片必須拋光。
用薄片進(jìn)行巖石學(xué)分析，可以方便地從陰極發(fā)光系統(tǒng)轉(zhuǎn)
換到透射光系統(tǒng)進(jìn)行結(jié)構(gòu)和礦物成分的觀察和鑒定，
這比僅作單一的陰極發(fā)光或單一的透射光的觀察簡(jiǎn)易得多。

    另外，如果不要求透射光觀察，那么拋光的巖塊就可以
進(jìn)行陰極發(fā)光巖石學(xué)觀察.這為在陰極發(fā)光下快速制備覽觀察
的樣品提供了便利，而不必費(fèi)時(shí)費(fèi)錢地制作薄片。并且，因?yàn)槲?br />被樹脂浸注過(guò)的拋光巖塊較厚且不含樹脂，所以更不易于被電子束損壞。

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